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高解析分析式穿透式電子顯微鏡


  • 型號:High Resolution Analytical Transmission Electron Microscope
  • 編號:機台編號:M1
  • 設置地點:TEM穿透式電子顯微鏡實驗室
  • 設備功能:具有掃描及穿透功能、可觀察材料微細組織、晶體結構及缺陷、並可做化學元素成份定性及半定量。
  • 所屬實驗室:高解析分析穿透式電子顯微鏡實驗室

重要規格:

一.重要規格:
1.加速電壓:80-200 KV
2.放大倍率:X50 ~ X1,500,000
3.解像力: point to point: 0.23 nm,Lattice image:0.14 nm
4.最小Spot size : 0.5nm
5.雙傾斜基座:X軸±35°;Y軸±30°。

二.主要附件:
1.Gatan 832 CCD
2.Gatan 626 Cryotransfer holder and 655 pumping station
3.Oxford EDS system, included Mapping function
4.STEM Unit, included High Angle Annual Dark Field Detector(HAADF)
5.Double、Be Double(Low Background) specimen tilt holder

三.儀器性能:
1.具有掃描及穿透功能,可觀察材料微細組織,晶體結構及缺陷之觀察分析。
2.微區繞射分析(Nano Beam Diffraction),鑑定結晶材料微結構。
3.高解析(HREM),增強訊號並放大影像分析結晶材料微結構。
4.可數位存取TEM/STEM影像。
5.具有冷凍傳輸樣品載台(Cryotransfer holder),可有效降低Low Does樣品因電子束照射而產生的破壞。
6.化學元素成份定性及定量,分佈(Mapping)全能譜分析:B5~U92。

四.樣品限制:
使用者需詳細說明試片材料、製作方式與溶劑種類,為減少不必要的污染,本機台對於檢驗樣品的限制如下:
1.待測樣品應該具有適當、足夠的機械強度。
2.會產生相變及蒸鍍效應低熔點的材料,請勿預約本機台。
3.電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品,若有影響真空造成污染之虞,本單位有權拒絕受理。
4.具強磁性、磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料,本單位有權拒絕受理。
5.未經正確處理或充分乾燥的樣品,本單位有權拒絕受理。
6.有機及生物樣品請於24小時前送至樣品室進行抽氣乾燥。

聯絡資訊:

實驗室聯絡人:趙珍翌
電話:03-4638800 分機:3088
E-mail:jychao@saturn.yzu.edu.tw